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  • DZ3332DTA差热分析仪
    DTA差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。
    时间:2023-07-03型号:DZ3332厂商性质:生产厂家浏览量:988
  • ZQ3320CDTA高温差热分析仪
    DTA高温差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
    时间:2023-07-04型号:ZQ3320C厂商性质:生产厂家浏览量:589
  • DSC-1450DTA高温差热分析仪
    DTA高温差热分析仪:该差示扫描量热仪为触摸屏式,可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导期测试。
    时间:2023-07-04型号:DSC-1450厂商性质:生产厂家浏览量:947
  • DTA 差热分析天平
    DTA 差热分析天平 :在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
    时间:2023-07-04型号:厂商性质:生产厂家浏览量:709
  • DZ3320A差热分析仪价格
    差热分析仪价格在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
    时间:2023-07-04型号:DZ3320A厂商性质:生产厂家浏览量:670
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